X-Ray Spectrometry
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Recent Technological Advances Author: Tsuji, Kouichi (Osaka City University, Japan) / Injuk, Jasna (Micro and Trace Analysis Center, University of Antwerp, Belgium) / Van Grieken, Rene (Micro and Trace Analysis Center, University of Antwerp, Belgium)(Editor) Publisher: WILEY ISBN: 9780471486404 Cover: HARDCOVER Date: 2004年03月 こちらの商品は学校・法人様向け(機関契約)のオンラインブック版がございます。 オンラインブックの価格、納期につきましては弊社営業員または当ECサイトよりお問い合わせください。
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