Advanced Reliability Modeling Ii: Reliability Testing And Improvement - Proceedings Of The...
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※上記表示の販売価格は割引適用後の価格です 出版済み 3-5週間でお届けいたします。 Author: Dohi, Tadashi (Hiroshima Univ, Japan) / Yun, Won Young (Pusan Nat'l Univ, Korea)(Editor) Publisher: World Scientific ISBN: 9789812567581 Cover: HARDCOVER Date: 2006年08月 こちらの商品は学校・法人様向け(機関契約)のオンラインブック版がございます。 オンラインブックの価格、納期につきましては弊社営業員または当ECサイトよりお問い合わせください。 ![]()
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