Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
◆World Scientificセール開催中!:2024年12月22日(日)ご注文分まで
※上記表示の販売価格は割引適用後の価格です 出版済み 3-5週間でお届けいたします。 Series: Selected Topics in Electronics and Systems Author: Schrimpf, Ronald D (Vanderbilt Univ, Usa) / Fleetwood, Daniel M (Vanderbilt Univ, Usa)(Editor) Publisher: World Scientific ISBN: 9789812389404 Cover: HARDCOVER Date: 2004年08月 こちらの商品は学校・法人様向け(機関契約)のオンラインブック版がございます。 オンラインブックの価格、納期につきましては弊社営業員または当ECサイトよりお問い合わせください。
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